文章目录
[+]
专利摘要显示,本发明实施例公开了一种单元测试方法、装置、电子设备及存储介质。所述方法包括:响应于单元测试指令,确定与所述单元测试指令对应的类对象,其中,所述类对象为由目标测试类创建出来的对象;基于所述类对象,确定所述目标测试类中定义的至少一个候选测试方法,从所述至少一个候选测试方法中选择与所述测试指令对应的目标测试方法;基于所述目标测试方法,生成与所述单元测试指令对应的测试用例;在获取到针对所述测试用例输入的测试输入数据后,基于所述测试用例和所述测试输入数据,对所述目标测试类的功能进行测试。本发明实施例的技术方案,对需要进行测试的类进行自动化的单元测试,降低了测试成本,提升了测试效率,提升了软件开发效率。
本文源自金融界

(图片来自网络侵删)